Electronic Device Failure Analysis

Описание

Публикуются исследования в области анализа неисправностей электронных устройств, с акцентом на методы диагностики и оценки надежности. Авторы раскрывают вопросы, связанные с механизмами отказов, материалами и технологиями, используемыми в производстве электронных компонентов. Журнал охватывает такие поднаправления, как микроскопия для анализа повреждений и методики тестирования на устойчивость к воздействиям окружающей среды. Исследования нацелены на решение практических задач, повышение долговечности продукции и оптимизацию производственных процессов. Журнал будет полезен специалистам в области материаловедения, инженерии и электроники, занимающимся проблемами надежности и анализа неисправностей.